Electrical interconnect design for testing of high-speed IC transceivers

R. Rimolo-Donadio, C. Baks, B. G. Lee, J. H. Song, X. Gu, Y. H. Kwark, D. M. Kuchta, A. V. Rylyakov, C. L. Schow

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

2 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Electrical interconnect design for testing of high-speed IC transceivers'. En conjunto forman una huella única.

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